當(dāng)前位置:首頁(yè) > 技術(shù)文章
在現(xiàn)代精密工程和科學(xué)研究中,主動(dòng)隔振臺(tái)扮演著至關(guān)重要的角色。這種高科技設(shè)備通過(guò)精密的傳感器網(wǎng)絡(luò)和先進(jìn)的控制算法,為精密儀器創(chuàng)造了一個(gè)近乎靜止的工作環(huán)境,使其能夠在納米尺度上進(jìn)行精確操作和測(cè)量。主動(dòng)隔振臺(tái)的核心在于其特殊的反饋控制機(jī)制。系統(tǒng)由...
薄膜應(yīng)力測(cè)試儀是一種用于測(cè)量薄膜應(yīng)力的設(shè)備,在微納加工領(lǐng)域中具有廣泛的應(yīng)用前景。隨著微納加工技術(shù)的不斷發(fā)展,薄膜應(yīng)力測(cè)試儀在材料科學(xué)研究、微電子器件制造、生物醫(yī)學(xué)工程等領(lǐng)域發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。一、應(yīng)用1.材料科學(xué)研究:薄膜應(yīng)力測(cè)試儀可以用于研究材料的力學(xué)性能、斷裂韌性、疲勞壽命等,為材料科學(xué)研究和設(shè)計(jì)提供重要數(shù)據(jù)。2.微電子器件制造:在微電子器件制造過(guò)程中,它可以用于測(cè)量薄膜材料的應(yīng)力分布和變化,為器件設(shè)計(jì)和制造提供關(guān)鍵參數(shù)。3.生物醫(yī)學(xué)工程:在生物醫(yī)學(xué)工程領(lǐng)域,它可以用...
隨著工業(yè)界的數(shù)字化轉(zhuǎn)型和智能化生產(chǎn)方式的興起,各種先進(jìn)的技術(shù)設(shè)備開始發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。其中,非接觸式雙表面輪廓儀作為一種高新技術(shù)測(cè)量設(shè)備,在工業(yè)4.0轉(zhuǎn)型中的關(guān)鍵作用日益凸顯。首先,非接觸式雙表面輪廓儀在工業(yè)4.0中的關(guān)鍵作用體現(xiàn)在其高效精準(zhǔn)的測(cè)量能力上。傳統(tǒng)的測(cè)量方法通常需要接觸被測(cè)物體,而且往往需要耗費(fèi)大量的時(shí)間和人力資源。然而,該儀器采用光學(xué)成像原理,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)物體輪廓的非接觸式快速測(cè)量,大大提高了測(cè)量效率和精度,為工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程提供了可靠的數(shù)據(jù)支持。其次,該儀器在...
白光干涉儀是一種高精度的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,廣泛應(yīng)用于表面輪廓測(cè)量、光學(xué)薄膜檢測(cè)等領(lǐng)域。在選購(gòu)白光干涉儀時(shí),需要考慮以下幾個(gè)方面:一、測(cè)量需求:首先需要明確自己的測(cè)量需求,包括需要測(cè)量的樣品類型、測(cè)量范圍、測(cè)量精度等。在選擇時(shí),需要根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇合適的型號(hào)和規(guī)格。二、儀器性能參數(shù):1.測(cè)量范圍:白光干涉儀的測(cè)量范圍包括縱向和橫向兩個(gè)方向??v向測(cè)量范圍指的是儀器能夠測(cè)量的高度范圍,橫向測(cè)量范圍指的是儀器能夠測(cè)量的寬度范圍。在選擇儀器時(shí),需要根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇合適的測(cè)量范圍...
薄膜電阻測(cè)試儀在科研和工業(yè)生產(chǎn)中扮演著重要的角色,它作為一種關(guān)鍵的測(cè)試設(shè)備,在科研與工業(yè)生產(chǎn)中發(fā)揮著重要作用。薄膜電阻作為一種常見的電子元件,被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、集成電路、傳感器等領(lǐng)域。薄膜電阻的性能對(duì)于電子產(chǎn)品的品質(zhì)和性能至關(guān)重要,因此對(duì)其進(jìn)行準(zhǔn)確、高效的測(cè)試成為科研與工業(yè)生產(chǎn)中的迫切需求。首先,薄膜電阻測(cè)試儀在科研領(lǐng)域的應(yīng)用十分廣泛。科研人員常常需要對(duì)新材料、新工藝進(jìn)行研究和開發(fā),而薄膜電阻作為其中重要的組成部分,需要進(jìn)行精密的測(cè)試以驗(yàn)證其性能參數(shù)。它能夠提供高精度的...
薄膜電阻測(cè)量?jī)x通過(guò)將一定電流通過(guò)薄膜樣品,然后測(cè)量樣品兩端的電壓,以此計(jì)算出薄膜的電阻值。它優(yōu)點(diǎn)是可以非接觸、無(wú)損傷地測(cè)量薄膜材料的電阻,測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確、穩(wěn)定。這種儀器主要應(yīng)用于電子工業(yè)、材料科學(xué)、光電子學(xué)等領(lǐng)域,用于研究薄膜材料的電性能,以及對(duì)薄膜制程的控制和優(yōu)化。薄膜電阻測(cè)量?jī)x是一種用于測(cè)量薄膜電阻值的儀器,廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域。選擇和使用薄膜電阻測(cè)試儀需要注意以下幾個(gè)方面。一、合理選擇:1.確定測(cè)量需求:在選擇時(shí),首先要明確測(cè)量需求,包括需要測(cè)量的薄膜類型、電阻范...